您的位置: 标准下载 » 协会标准 » SAE 美国机动车工程师学会 »

SAE AS25439 Splice-Permanent Crimp Style, 2 Way Type for Aluminum Aircraft Wire, Class 1

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 21:50:19  浏览:9021   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
Product Code:SAE AS25439
Title:Splice-Permanent Crimp Style, 2 Way Type for Aluminum Aircraft Wire, Class 1
Issuing Committee:Ae-8c2 Terminating Devices And Tooling Committee
Scope:No scope available
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Roadlighting-Codeofpracticeforlightingfortrafficroutes
【原文标准名称】:道路照明.第2部分:交通道路照明惯例
【标准号】:BS5489-2-1992
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1992-08-15
【实施或试行日期】:1992-08-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:照明系统;选址;宽度;设计计算;主干道;道路交叉点;彼此间隔的;公路;光分布;道路照明灯;眩光;曲线的;亮度;维修;道路照明;位置;道路;照明设备;布置;高度;照明标准;等级(质量)
【英文主题词】:mainroads;roadjunctions;siting;width;height;luminance;roadlighting;motorroads;road-lightinglanterns;maintenance;designcalculations;roads;spaced;lightdistribution;grades(quality);layout;lightinglevels;lightingequipment;curved;glare;lightingsystems;position
【摘要】:
【中国标准分类号】:P66;R80
【国际标准分类号】:93_080_40;29_140_01
【页数】:36P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringFlatness,Thickness,andThicknessVariationonSiliconWafersbyAutomatedNoncontactScanning
【原文标准名称】:用自动无触点扫描法测量硅片平整度、厚度和厚度变化的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1530-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:平整度;半导体;探测法;试验;厚度;硅晶片;大晶片;自动无触点扫描;无损检验NDE;无触点技术;硅半导体;切片;厚度变化
【英文主题词】:byautomatednoncontactscanning;noncontacttechnique;siliconsemiconductors;siliconwafers;slices;thicknessvariation;nondestructiveevaluationnde;test;semiconductors;thickness;probemethods;wafers;
【摘要】:
【中国标准分类号】:H83
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语